مقاله انگلیسی رایگان در مورد خصوصیات نوری فیلم های نازک تلورید کادمیوم تبخیر شده به روش حرارتی – الزویر ۲۰۰۳

مقاله انگلیسی رایگان در مورد خصوصیات نوری فیلم های نازک تلورید کادمیوم تبخیر شده به روش حرارتی – الزویر ۲۰۰۳

 

مشخصات مقاله
ترجمه عنوان مقاله خصوصیات نوری فیلم های نازک تلورید کادمیوم تبخیر شده به روش حرارتی
عنوان انگلیسی مقاله Optical properties of thermally evaporated cadmium telluride thin films
انتشار مقاله سال ۲۰۰۳
تعداد صفحات مقاله انگلیسی  ۷ صفحه
هزینه دانلود مقاله انگلیسی رایگان میباشد.
پایگاه داده نشریه الزویر
نوع نگارش مقاله
مقاله پژوهشی (Research article)
مقاله بیس این مقاله بیس نمیباشد
نمایه (index) scopus – master journals – JCR
نوع مقاله ISI
فرمت مقاله انگلیسی  PDF
ایمپکت فاکتور(IF)
۲٫۰۵۷ در سال ۲۰۱۷
شاخص H_index ۱۲۴ در سال ۲۰۱۹
شاخص SJR ۰٫۶۱۵ در سال ۲۰۱۷
شناسه ISSN ۰۲۵۴-۰۵۸۴
شاخص Quartile (چارک) Q2 در سال ۲۰۱۷
رشته های مرتبط  فیزیک
گرایش های مرتبط  فیزیک کاربردی –  اپتیک و لیزر
نوع ارائه مقاله
ژورنال
مجله / کنفرانس Materials Chemistry and Physics
دانشگاه Thin Film Laboratory, Department of Physics, Pratap College, Amalner 425401, Jalgaon District, Maharashtra, India
کلمات کلیدی تبخیر حرارتی، خصوصیات نوری، گاف باند، XRD
کلمات کلیدی انگلیسی Thermal evaporation, Optical properties, Band gap, XRD
شناسه دیجیتال – doi
https://doi.org/10.1016/S0254-0584(02)00336-X
کد محصول E11866
وضعیت ترجمه مقاله  ترجمه آماده این مقاله موجود نمیباشد. میتوانید از طریق دکمه پایین سفارش دهید.
دانلود رایگان مقاله دانلود رایگان مقاله انگلیسی
سفارش ترجمه این مقاله سفارش ترجمه این مقاله

 

فهرست مطالب مقاله:
Outline
Abstract
۱٫ Introduction
۲٫ Experimental
۳٫ Results and discussion
۴٫ Conclusions
Acknowledgements
References

بخشی از متن مقاله:

Abstract

Polycrystalline CdTe films have been deposited onto glass substrates at 373 K by vacuum evaporation technique. The transmittance and reflectance have been measured at normal and near normal incidence, respectively, in the spectral range 200–۲۵۰۰ nm. The dependence of absorption coefficient, α on the photon energy have been determined. Analysis of the result showed that for CdTe films of different thicknesses, direct transition occurs with band gap energies in the range 1.45–۱٫۵۲ eV. Refractive indices and extinction coefficients have been evaluated in the above spectral range. The XRD analysis confirmed that CdTe films are polycrystalline having hexagonal structure. The lattice parameters of thin films are almost matching with the JCPDS 82-0474 data for cadmium telluride. © ۲۰۰۲ Elsevier Science B.V. All rights reserved.

Introduction

Cadmium telluride is considered at present one of the most promising materials, for device applications. It has high absorption coefficient in the visible range of the solar spectrum and its band gap is close to the optimum value for efficient solar energy conversion [1,2]. The material can be prepared in n-type and p-type forms so that solar cells can be formed in both homojunction and heterojunction configurations. A survey of the literature shows that different techniques of deposition have been developed to obtain device grade CdTe thin films, among which electrodeposition [3], rf sputtering [4], closed vapor transport [5], spray pyrolysis [6], screen printing [7], and vacuum evaporation [8,9] are worth mentioning. All these techniques have their own merits and demerits in producing high quality CdTe films. Recently several workers have studied structural characteristic and optical properties depending on the deposition conditions [10–۱۷]. Most of these investigations did not deal with each deposition condition, separately and some contradictions appeared in the results. Therefore in this work systematic investigation of the effect of the preparation conditions on the optical properties and structural characteristic has been carried out. An interpretation of the determined optical constant variations in correlation with the corresponding structural parameters is presented.

ثبت دیدگاه