| مشخصات مقاله | |
| عنوان مقاله | Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches |
| ترجمه عنوان مقاله | عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC |
| فرمت مقاله | |
| نوع مقاله | ISI |
| سال انتشار | |
| تعداد صفحات مقاله | 6 صفحه |
| رشته های مرتبط | کامپیوتر، مهندسی فناوری اطلاعات و ارتباطات ICT |
| گرایش های مرتبط | سوئیچ، دیتا، شبکه های کامپیوتری و سخت افزار |
| مجله | سی امین سمپزیوم آزمون آسیایی – 25th Asian Test Symposium |
| دانشگاه | اشتوتگارت، آلمان |
| کلمات کلیدی | تست عملیاتی، حالت خرابی عملیاتی، دسته‌بندی خطاها، عیب‌یابی عملیاتی، ایجاد الگو، پیکربندی مجدد دانه‌ریز |
| کد محصول | 38 |
| نشریه | IEEE |
| وضعیت ترجمه مقاله | ترجمه آماده این مقاله موجود نمیباشد. میتوانید از طریق دکمه پایین سفارش دهید. |
| دانلود رایگان مقاله | دانلود رایگان مقاله انگلیسی |
| خرید ترجمه این مقاله | خرید ترجمه این مقاله |
| بخشی از متن مقاله: |
| چکیده
شبکه‌روی تراشه (NoC) با قابلیت پیکربندی مجدد امکان دور انداختن پورت‌های خراب یک سوئیچ معیوب به جای غیرفعال کردن کامل آن را فراهم می‌سازد؛ بنابراین پیکربندی مجدد دانه‌ریز شبکه مقدور می شود و ساختارهای NoC را تنومند‌تر می‌کند. این مقاله به ارائه‌ی یک رویکرد عیب‌یابی عملیاتی می‌پردازد که اطلاعات خطای ساختاری را از تست‌های عملیاتی استخراج کرده و از این اطلاعات برای شناسایی توابع/پورت‌های خراب یک سوئیچ معیوب استفاده می‌کند. بخش‌های خراب کنار گذاشته می‌شوند درحالیکه توابع باقی‌مانده برای عملکرد معمول مورد استفاده قرار می‌گیرند. این روش مستقل از معماری سوئیچ و توپولوژی NoC بوده و می‌توند برای هر نوع خطای ساختاری اعمال شود. تفکیک‌پذیری عیب‌یابی تست عملیاتی بسیار بالاست به‌گونه‌ای که تقریبا برای 64 درصد خطاها در سوئیچ فقط یک پورت باید خاموش شود. با عملیاتی ماندن بقیه‌ی بخش‌ها، تأثیر خطاها بر توان‌عملیاتی و عملکرد به کمترین مقدار می‌رسد. |